奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡OLS5100

奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡OLS5100，能夠通過非接觸、非破壞的觀察方式輕鬆實現 3D 觀察和測量。僅(jin) 需按下“Start（開始）"按鈕，用戶就能在亞(ya) 微米級進行精細的形貌測量。該產(chan) 品不僅(jin) 易於(yu) 使用，更具備功能，能夠提供四倍於(yu) 上一代型號的采集速度。對於(yu) 需要觀察大型樣品的客戶，LEXT 的長工作距離物鏡和選配的擴展機架使得係統能夠適用於(yu) 為(wei) 210mm 的樣本。

奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡OLS5100技術規格

激光共聚焦顯微鏡OLS5100可觀察納米範圍的台階，並可測量亞(ya) 微米級別的高度差。還可以測量從(cong) 線到麵的表麵粗糙度。配備的兩(liang) 套光學係統（彩色成像光學係統和激光共焦光學係統）讓其能夠獲取彩色信息、高度信息和高分辨率圖像。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100 有4大關(guan) 鍵價(jia) 值：

• 捕捉任意表麵形狀。

• 快速獲得可靠數據。

• 使用簡單 - 隻需放置樣品並按一下按鈕即可。

• 測量具有挑戰性的樣品。

價(jia) 值1：捕捉任意表麵形狀。

OLS5100顯微鏡的技術使其能夠進行高分辨率的3D樣品測量。

價(jia) 值2、快速獲得可靠數據

該顯微鏡的掃描算法既可提高數據質量又可提高速度，從(cong) 而縮短您的掃描時間，簡化您的工作流程，最終實現生產(chan) 力的提升。

價(jia) 值3、使用簡單，隻需放置樣品並按一下按鈕即可

LEXT® OLS5100顯微鏡具有自動數據采集功能，因而無需進行複雜的設置調整。 甚至生疏的用戶也可以獲得準確的檢測結果。

價(jia) 值4、可測量具有挑戰性的樣品

低輸出、非接觸式無損激光測量意味著不需要樣品製備。可以在不損壞易損性材料的情況下對其進行測量。擴展架可容納高達210毫米的樣品，而超長工作距離物鏡能夠測量深度可達25毫米的凹坑。在測量這兩(liang) 類樣品時，您隻需將樣品放在載物台上即可。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100獲取彩色信息
彩色成像光學係統使用利用白光LED光源和CMOS相機獲取彩色信息。
[獲取3D 高度信息和高分辨率共焦圖像]
激光共焦光學係統采用405納米激光二極管光源和高靈敏度光電倍增管獲得共焦圖像。淺焦深使其能夠用於(yu) 測量樣品的表麵不規則性。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100 405納米激光光源

光學顯微鏡的橫向分辨率隨著波長的減小而獲得提升。采用短波長激光的激光顯微鏡相比采用可見光（峰值550納米）的傳(chuan) 統顯微鏡具有更優(you) 的橫向分辨率。 OLS5100顯微鏡利用405納米短波長激光二極管獲得的橫向分辨率。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100激光共焦光學係統

激光共焦光學係統僅(jin) 接收通過圓形針孔聚焦的光線，並非采集從(cong) 樣品上反射和散射的所有光線。這樣有助於(yu) 消除模糊，讓其能夠獲得比普通顯微鏡對比度更高的圖像

激光共聚焦顯微鏡OLS5100 X-Y掃描儀(yi)

OLS5100顯微鏡配有奧林巴斯光學掃描儀(yi) 。通過將采用電磁感應MEMS諧振掃描儀(yi) 的X軸與(yu) 采用Galvano掃描振鏡的Y軸相結合，能夠讓X-Y掃描儀(yi) 定位於(yu) 相對物鏡瞳鏡共軛的位置，因而能夠實現具有較低掃描軌跡失真和較小光學像差的X-Y掃描。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100高度測量原理

在測量高度時，顯微鏡通過自動移動焦點位置獲取多個(ge) 共焦圖像。
根據非連續的焦點位置（Z）和檢測光強度（I）可以估算每個(ge) 像素的光強變化曲線（I-Z曲線），並獲得其峰值位置和峰值強度。由於(yu) 所有像素的峰值位置與(yu) 樣品表麵的不規則性相對應，因此可以獲得樣品表麵的3D形狀信息。與(yu) 此類似，通過峰值強度數據可以獲得針對樣品表麵所有位置焦點的圖像（擴展圖像）。