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台式電鏡&台階儀(yi) &原位分析
澤攸TEM原位方案(樣品杆)
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量係統
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量係統,是在標準外形的透射電鏡樣品杆內(nei) 加裝掃描探針控製單元,通過探針對單個(ge) 納米結構進行操縱和電學測量。
產(chan) 品分類
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澤攸透射電鏡原位高溫力學測量係統,同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。MEMS芯片模塊上可以選擇加熱芯片,也可以選擇電學測量芯片。力學測量模塊可以選擇不同載荷的傳(chuan) 感器,滿足不同實驗需求。
該產(chan) 品實現了透射電鏡中的高分辨定量原位高溫力學研究。
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量係統
性能指標
透射電鏡指標:
● 兼容指*電鏡型號及極靴;
● 部分型號電鏡可選雙傾(qing) 版本,雙傾(qing) 電學測量樣品杆Y軸傾(qing) 角±25°;(同時受限於(yu) 極靴間距);
力學傳(chuan) 感器指標:
● 最大載荷100 mN(可選0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN);
● 力測量實測噪聲優(you) 於(yu) 5nN(0.1 mN最大載荷時);
● 力測量實測分辨率優(you) 於(yu) 5 nN(0.1 mN最大載荷時);
● 自動測量力-距離曲線,自動保存。
加熱指標:
● 溫度控製範圍:室溫至1000 ℃;
● 溫度準確度:優(you) 於(yu) 5%;
● 溫度穩定性:優(you) 於(yu) ±0.1 ℃。
掃描探針操縱指標:
● 粗調範圍:X方向 1.5 mm,YZ 方向2 mm;
● 細調範圍:XY 方向20 um,Z 方向 10 um;
● 細調分辨率:XY 方向 0.4 nm,Z 方向 0.2 nm。
產(chan) 品特色
(1)很大力學測量及溫度控製範圍;
(2)多場下的力學研究;
(3)穩定性高:輕鬆獲得大幅度運動中的高分辨像,適用於(yu) 更廣泛的應用場景和樣品體(ti) 係;
(4)很長的壽命